Energieeffizienz und Zuverlässigkeit sind die Schlüsselparameter von komplexen mikro- und nanoelektronischen Systemen. Gerade der zunehmende Einsatz solcher Systeme in sicherheitskritischen und zugleich ressourcenbeschränkten Anwendungen, etwa Autos, macht die Notwendigkeit deutlich, diese beiden Entwurfsziele nebeneinander zu optimieren. Andererseits zeigen neue Daten, dass in Anwendungen wie der Bildverarbeitung große Energieeinsparungen möglich sind, wenn eine kontrollierte Fehlerrate und damit einher gehender Qualitätsverlust toleriert wird.
Der Vortrag wird auf die Implikationen von klassischen Techniken zur Steigerung der Zuverlässigkeit auf Energieeffizienz und umgekehrt eingehen. Dabei wird deutlich, dass die Optimierung eines der beiden Entwurfsziele zum Teil deutliche negative Auswirkungen auf das jeweils andere Ziel hat. Dies trifft besonders in aktuellen Nanoscale-Fertigungstechnologien zu, die von massiven statistischen Parametervariationen betroffen sind. Anschließend werden neuere Techniken diskutiert, welche gleichzeitig Energieeffizienz und Zuverlässigkeit addressieren und durch ihre Adaptivität auch unter Parametervariationen effektiv sind.
Ilia Polian (Diplom: 1999, Promotion: 2003, Habilitation: 2008) ist Lehrstuhlinhaber für Technische Informatik an der Universität Passau. Zuvor war er an der Universität Freiburg tätig und hat dort als Wissenschaftlicher Assistent am Lehrstuhl für Rechnerarchitektur und als Geschäftsführender Direktor des Freiburg Centre for Security and Society fungiert. Prof. Polian ist Senior Member des IEEE und Student Activities Chair des IEEE Test Technology Technical Council (TTTC). Er hat eine Reihe von nationalen und internationalen Konferenzen mitorganisiert, u.a. IEEE European Test Symposium 2007 in Freiburg, GI/GMM/ITG Workshop Testmethoden und Zuverlüssigkeit 2011 in Passau sowie IEEE RASDAT Workshop 2010 in Bangalore und 2011 in Chennai. Seine Forschungsschwerpunkte sind Entwurf robuster, zuverlässiger und sicherer Systeme mit Hardware- und Software-Komponenten und Entwurfsautomatisierung insb. Testmethoden.